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利用TDR (时域反射计)测量传输延时

时间:2010-03-17 | 栏目:测量仪表 | 点击:

利用TDR (时域反射计)测量传输延时

随着时钟速率的提高,利用高速示波器有源探头测量延时的传统方法很难获得准确结果。这些探头成为高速信号通路的一部分,并造成被测信号的失真,引入误差。探头还必须直接置于器件引脚,以消除PCB (印刷电路板)引线长度产生的延时误差,满足探头位置的这一要求是困难而复杂的过程。本文介绍了如何利用TDR (时域反射计)测量降低探头误差的方法,有助于提高传输延时测量精度。

分析方法

本文基于以下三个前提:

  1. 利用TDR (时域反射计)减小探头误差。TDR通常用来测量信号通路长度与阻抗变化的关系。TDR也是测量传输延时的重要工具。
  2. 避免直接探测。由于加载的原因,有源探头会使测量变得复杂,并引入误差。
  3. 利用一个实例演示这一方法。本文将以MAX9979为例,该芯片为高速引脚电子电路,适合于ATE系统。芯片内部集成了双路高速驱动器、有源负载以及工作在1Gbps以上的窗比较器

此处介绍的方法适用于任何高速器件。

TDR原理

TDR测试方法中,沿信号通路传输高速信号边沿,并观察其反射信号。反射能够说明信号通路的阻抗以及阻抗变化时信号延时的变化,TDR测试的简单示意图如图1所示。

图1. TDR原理,TDR测量基于反射系数ρ,其中ρ = (VREFLECTED/VINCIDENT)。最终,ZO = ρ × (1 + ρ)/(1 - ρ)。
图1. TDR原理,TDR测量基于反射系数ρ,其中ρ = (VREFLECTED/VINCIDENT)。最终,ZO = ρ × (1 + ρ)/(1 - ρ)。

从图1可以得到两个重要概念:

  1. TDLY是我们将要测量的PCB (印刷电路板)引线延时。
  2. ZO是被测PCB引线的阻抗。

仪器和评估板

为了测量纳秒级的延时,需要非常快的脉冲发生器、高速示波器以及高速探头。我们也可以利用具有TDR测量功能的Tektronix® 8000 (图2)系列示波器(TDS8000、CSA8000或CSA8200),配合80E04 TDR采样模块使用。本文采用MAX9979EVKIT (评估板)、Hewlett Packard 8082A脉冲发生器和TDS8000/80E04进行演示。图3所示为MAX9979EVKIT部分电路。可以选择使用任何具有TDR功能的高速示波器和任何高速差分脉冲发生器,同样能够获得相似结果。


图2. Tektronix TDS8000系列具有采样模式的示波器


查看详细图片(PDF,2.2MB)
图3. MAX9979EVKIT (部分)

分析中将进行以下测量:

DATA1/NDATA1输入建模

由于人们对TDR响应比较困惑,我们首先利用SPICE仿真器构建输入延时的模型。然后我们将仿真结果与实际测量进行比较,参见图4


图4. 等效输入原理图和最终仿真模型

图4注释:

DATA1/NDATA1输入仿真

图5所示为TPv3的SPICE仿真波形。

图5. 图4所示模型的SPICE仿真(节点TPv3),在MAX9979EVKIT DATA1输入采集到的数据。
图5. 图4所示模型的SPICE仿真(节点TPv3),在MAX9979EVKIT DATA1输入采集到的数据。

从图5数据可以得出以下几点结论:

MAX9979的传输延时测量

按照以下六个步骤进行传输延时测量。

第1步:测量连接DUT1节点到CSA8000垂直输入的2in长SMA电缆的延时(图6)。

图6. 2in SMA电缆的CSA8000 TDR
图6. 2in SMA电缆的CSA8000 TDR

测量时:

第2步:测量DATA1输入信号的PCB引线延时/阻抗。

图7. DATA1 PCB TDR阻抗测量
图7. DATA1 PCB TDR阻抗测量

从该数据可以获得以下几项信息

该测量可以简化为:

图8. 波形与图7相同,但为扩展后的波形,测量延时。
图8. 波形与图7相同,但为扩展后的波形,测量延时。

图8所示,测量第2级阶跃—DATA1 PCB引线延时。注意:

第3步:测量DUT1输出信号的PCB引线延时/阻抗。

图9. DUT1 PCB TDR延时和阻抗测量
图9. DUT1 PCB TDR延时和阻抗测量

图9所示示波器波形是采用与图7、图8相同的设置产生的。我们现在采用一条2in长SMA电缆连接CSA8000 80E04模块和MAX9979EVKIT的DUT1 SMA。注意:

第4步:用两条相同的SMA电缆连接差分信号发生器,测量CSA8000的基线延时。

图10. 测量来自发生器的DATA1/NDATA1信号
图10. 测量来自发生器的DATA1/NDATA1信号

图10所示,C1和C2是两个互补PECL信号,幅值大约为450mV。这些DATA1和NDATA1信号直接由外部的信号发生器产生,送入CSA8000输入。我们采用CSA8000的20GHz采样探头,从该数据可得出以下结果:

第5步:MAX9979EVKIT上电。

图11. MAX9979上电并为CSA8000的50Ω负载产生3V信号
图11. MAX9979上电并为CSA8000的50Ω负载产生3V信号

将DATA1和NDATA1信号连接至已上电的MAX9979EVKIT的DATA1/NDATA1输入。使用与第4步相同的电缆。按照传输延时测量技术资料的规定,将MAX9979设置为规定的0V至3V信号,并将输出端接至50Ω。本例中,50Ω负载为CSA8000输入,从图11获得的数据点显示:

第6步:计算MAX9979的传输延时。

通过MAX9979EVKIT的总延时为:

33.77ns - 29.56ns = 4.21ns

计算测量结果:

MAX9979技术指标中,这种配置下的标称延时为2.9ns。这里,我们可以得到焊接了MAX9979的评估板的延时为2.933ns,非常接近于预期值。

总结

以上分析表明利用TDR测量传输延时具有以下优势:

随着信号速率的提高,时序测量的误差和错误会造成不正确的电路规划、器件选择及系统设计。高速测量中保持良好的方法能够避免亡羊补牢造成的损失。本文着重强调了这些良好的设计习惯。

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